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丹東新東方晶體儀器有限公司
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單晶的生長和應用需要確定其相對于材料外表面或其它幾何特征的晶格取向。目前主要采用的定向方法是X射線衍射法，測量一次只能獲取一個晶格的平面取向，測量出所有完整的晶格取向需要進行反復多次測量，通常是進行手動處理，而完成這個過程至少需要幾分鐘甚至數十分鐘。
在測量過程中，晶體以恒定速度圍繞轉盤中心的旋轉軸，即系統的參考軸旋轉，X射線管和帶有面罩的數據探測器處于固定位置不動。X射線光束傾斜著照射至樣品，經過晶體晶格反射后探測器進行數據采集，在垂直于旋轉軸（ω圓）的平面內測量反射的角位置。選擇相應的主光束入射角，并且檢測器前面的面罩進行篩選定位，從而獲得在足夠數量的晶格平面上的反射，進而可以評估晶格所有數據。整過過程必須至少測量兩個晶格平面上的反射。對于對稱軸接近旋轉軸的晶體取向，記錄對稱等值反射的響應數，整個測量僅需幾秒鐘。
利用反射的角度位置，計算晶體的取向，例如，通過與晶體坐標系有關的極坐標來表示。此外，圓上任何晶格方向投影的方位角都可以通過測量得到。
